迪士尼彩乐园2 等离子体先进蚀刻期间
等离子体蚀刻期间在半导体制造工业中饰演着至关蹙迫的变装,本文对其进行先容迪士尼彩乐园2,分述如下:
等离子体脉冲蚀刻期间
原子层蚀刻期间
带状束标的性蚀刻期间
气体团簇离子束蚀刻期间
1等离子体脉冲蚀刻期间
等离子体脉冲蚀刻期间通过周期性地开启和关闭功率,形成一系列的脉冲轮回。一个完好的等离子体脉冲蚀刻轮回频繁包括以下四个阶段:
(1) 功率引发运转阶段
在功率启动的运转阶段,电子温度赶紧飞腾,同期电子和离子密度脱手增多。在晶圆近邻,会慢慢形成一个鞘层,但合座现象尚未达到领路。此阶段,功率处于最大值,但电子密度仍然较低。高功率引发了高的平均电子能量、等离子体电位和离子能量,有关词,由于电子和离子密度较低,晶圆名义的离子通量也相对较小。
(2) 功率引发领路阶段
过问领路阶段后,电子密度、电子温度、离子密度和等离子电位等参数均趋于领路,其数值与网络等离子体蚀刻现象基本越过。这个阶段与网络等离子体蚀刻经由具有很多同样之处。
(3) 功率关闭运转阶段
当功率关闭时,感应电场对电子的加热罢手。有关词,电子仍然会络续扩散到基体侧壁或与中性粒子发生非弹性碰撞,开释能量并导致电子温度急剧下跌。同期,等离子体电势、正离子能量和通量也会大幅下跌,接近晶圆名义的离子鞘层脱手坍弛。
(4) 功率关闭后期阶段
在功率关闭的后期阶段,电子密度降至最小值,主要带负电荷的粒子由电子飘零为负离子。此时,等离子体构成要素飘零为正离子和负离子现象,正负离子通量基本换取。接近晶圆名义的鞘层绝对坍弛,大批负离子大约到达基体底部,均衡正电荷的积蓄,为下一个功率引发运转阶段的蚀刻经由提供弥散的正离子通量。
优化脉冲等离子体蚀刻经由
为了优化脉冲等离子体蚀刻经由,需要精准按捺到达基体名义的各式粒子通量,如反馈基团、离子和光子通量。其中,通过电子能量分辩(EED)按捺电子与通入气体分子的碰撞经由息争离产品是一种相等蹙迫的妙技。
在传统的网络等离子体蚀刻经由中,电子能量分辩基本处于恒定现象。有关词,在等离子体脉冲蚀刻经由中,由于功率所以脉冲时局施加的,电子的产生和破钞之间的均衡需要在脉冲经由中保管。因此,不错通过移动脉冲占空比和脉冲频率等参数来优化电子能量分辩。
电子能量分辩对反馈速率的影响
在等离子体中,电子撞击中性原子或分子会产生反馈粒子。当电子能量高于反馈激活能时,会参与激活、离子化和剖判反馈经由。电子能量分辩决定了反馈速率通盘,进而影响反馈速率。
等离子体脉冲期间大约更灵验地按捺电子能量分辩,从而在脉冲经由中使电子处于抵抗衡现象,影响电子能量分辩的即时步履。这有助于更好地按捺中性粒子和离子的通量比值、解离速率和电子温度。此外,通过改动电子能量分辩时局,还不错灵验按捺反馈速率参数,进而影响电子参与的引发、离子化息争离经由。
离子能量分辩对蚀刻经由的影响
离子通过撞击基体名义,大约灵验地将能量和动量传递给基体,从而协助名义化学反馈和教唆溅射经由。离子的通量和能量以及名义参与的反馈速率主要由离子能量分辩(IED)决定。离子能量分辩在很猛进程上决定了蚀刻后侧壁抽象、纵向和横向相对蚀刻速率以及等离子体教唆挫伤。
在等离子体脉冲蚀刻期间中,不错通过同步脉冲对离子能量分辩进行灵验按捺。使离子能量分辩范围变窄,且波峰值相对于网络等离子体蚀刻经由较低。这有助于在抵抗层蚀刻阀值能量比蚀刻层高的条款下赢得相等高的遴荐比,并减小等离子体教唆挫伤。
2原子层蚀刻期间
原子层蚀刻期间是一种高精度的蚀刻设施,其特质在于每个蚀刻轮回中的蚀刻量(Etch per Cycle, EPC)是固定的,因此蚀刻总量不错通过轮回次数来按捺。图2.28展示了三个原子层蚀刻轮回的经由。
原子层蚀刻的轮回脾气
在原子层蚀刻中,蚀刻经由具有自功令性或准自功令性步履。跟着蚀刻时刻的增多,每个轮回中的蚀刻量最终会趋于饱和。这种自功令性步履使得蚀刻快的区域和蚀刻慢的区域最终的蚀刻量慢慢接近,从而权贵改善了整片晶圆上不同位置和不同图形间的蚀刻均匀性。
比拟之下,网络等离子体蚀刻经由则缺少自功令性步履,蚀刻量与蚀刻时刻成正比。而具有准自功令性步履的原子层蚀刻经由,则跟着蚀刻时刻的增多,每个轮回中的蚀刻速率慢慢变慢,但蚀刻量不会最终趋于饱和。准自功令性蚀刻澌灭了自功令性蚀刻和网络等离子体蚀刻的优点,既能收场高精度蚀刻,又能普及蚀刻速率和坐蓐遵守。
其他收场原子层蚀刻的设施
除了在等离子体蚀刻机台内收场的一站式原子层蚀刻设施外,还不错通过其他设施来收场原子层蚀刻。举例,对三五族材料进行原子层蚀刻的设施,该设施包括名义氧化和氧化物去除两个要领。名义氧化经由不错通过过氧化氢等氧化剂或在氧气等离子体的作用下形成氧化层,迪士尼彩乐园然后通过稀释的硫酸等酸性溶液往复除氧化层。相通这两个要领就不错收场小于1nm级别的精准蚀刻。这种设施也称为数字刻蚀(Digital Etch)。
3带状束标的性蚀刻期间
带状束标的性蚀刻(Directed Ribbon-beam Etch)是一种改进的等离子体蚀刻期间,它澌灭了等离子体蚀刻和离子束注入期间的优点,大约在特定方进取对晶圆上的图案进行精准修正和蚀刻。
这一期间对于超大限度集成电路(VLSI)制造来说具有极大的眩惑力,因为它提供了传统蚀刻设施所不具备的单一标的蚀刻才能。
期间配景与上风
离子注入期间是VLSI坐蓐中等闲应用的一种期间,主要用于硅掺杂以形成MOSFET器件等。与传统的离子注入机台比拟,带状束标的性蚀刻在图形界说等方面取得了私有的应用。该期间不仅具有对离子能量、种类和入射角度的精准按捺才能,还大约通过改动物资的抗蚀刻才能、光学脾气等来收场材料改性。
机台结构与职责旨趣
带状束标的性蚀刻机台由两个腔室构成:等离子体生成腔室和蚀刻反馈腔室。在等离子体生成腔室中,反馈气体在外加电场的作用下通过电感耦合情势形成等离子体。蚀刻反馈腔室则包括晶圆扫描系统和晶圆静电卡盘,用于固定晶圆并进行蚀刻反馈。
在蚀刻反馈腔室中,晶圆与等离子体生成腔室之间有一个狭长的启齿,气体息争脱基会从等离子体产生腔室通过这个狭缝入射到晶圆上。晶圆被固定在静电卡盘上,与狭缝保执一定距离。在电势差的作用下,离子在通过狭缝后会具有可控的标的性入射到晶圆名义。
蚀刻脾气与应用
带状束标的性蚀刻期间具有权贵的单一标的蚀刻才能。在本质中,通过遴荐相宜的反馈气体和入射角度,不错收场对晶圆上特定方进取图案的精准蚀刻。举例,在FinFET电路中的金属导线(M0)图案形成经由中,该期间不错在不影响线宽的情况下增多沟槽的长度,从而顾问光阻曝光经由中的形变和短路问题。
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与传统的等离子体蚀刻设施比拟,带状束标的性蚀刻具有更高的精度和更小的对另一个标的的影响。这使得该期间在图形修正方面具有很好的应用长进。举例,在沟槽蚀刻中,不错通过该期间来修正光阻图形的尺寸,以豪恣盘算要求。
应用长进与瞻望
带状束标的性蚀刻期间在VLSI制造中具有等闲的应用长进。除了上述的FinFET电路中的金属导线图案形成外,该期间还不错在其他关节蚀刻要领中得到很好的应用。跟着器件尺寸的握住收缩和工艺要求的握住普及,带状束标的性蚀刻期间将证明越来越蹙迫的作用。
将来,跟着期间的握住跳动和资本的镌汰,带状束标的性蚀刻期间有望在更多规模得到应用。同期,也需要进一步优化机台结构和蚀刻工艺参数,以普及坐蓐遵守和蚀刻精度。笃信在不久的将来,这一期间将成为VLSI制造中不能或缺的一部分。
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气体团簇离子束蚀刻期间
气体团簇离子束(Gas Cluster Ion Beam, GCIB)蚀刻期间是一种先进的材料处理期间,它澌灭了物理和化学蚀刻的上风,并在多个规模展现出其私有的价值。以下是对于气体团簇离子束蚀刻期间的详备分析:
期间旨趣与脾气
(1) 气体团簇的形成:
气体团簇是在物理或化学作用下,由几个到数万个原子或分子构成的相对领路的鸠合体。
气体团簇不错通过多种设施产生,如气体鸠合、超声彭胀、激光挥发、磁控溅射、离子溅射、弧光放电、电喷射液态金属法和氦液滴索求法等。
(2) 电离与加快:
气体团簇在电子的轰击下不错电离化,形成带电的气体团簇离子。
在电场的作用下,气体团簇离子不错赢得很高的动能。
通过磁场的过滤作用,不错得到能量分辩更为集合的气体团簇离子束。
(3) 能量分辩上风:
与传统等离子体蚀刻比拟,气体团簇离子束中的每个粒子速率换取,平均能量较低,但能量分辩更为集合。
这种脾气使得气体团簇离子束在与规画材料反馈时,不会对规画材料的深层原子形成伤害,从而普及了蚀刻的精准性和可控性。
应用规模
(1) 名义平滑处理:
气体团簇离子束不错去除材料名义的轻细颗粒苟简度,收场名义的高精度平滑处理。
(2) 名义分析:
通过气体团簇离子束的轰击,不错引发出材料名义的二次电子或离子,用于名义要素和结构的分析。
(3) 浅层注入:
气体团簇离子束不错将材料注入到规画材料的浅层中,用于改动材料的电学、磁学或光学性质。
(4) 薄膜千里积:
行使气体团簇离子束的轰击作用,不错在规画材料名义千里积一层均匀的薄膜。
(5) 颗粒去除:
气体团簇离子束在去除晶圆等精密器件名义的轻细颗粒方面阐发出色,适用于半导体制造等高精度工艺。
(6) 蚀刻反馈:
气体团簇离子束不错在规画材料名义引发多种物理和化学反馈,收场精准的蚀刻图案。
具体应用案例
(1) 晶圆名义颗粒去除:
在Kazuya等的策动职责中,CO2气体团簇离子束在去除晶圆名义轻细颗粒方面取得了很好的末端。跟着摩尔定律的发展,气体团簇离子束的清洁才能在三维结构的晶圆上已经灵验。
(2) 室温条款下对铜的蚀刻:
在醋酸蒸汽环境下,O2气体团簇离子束通过局部的加热和轰击作用,不错在真空环境中收场室温条款下对铜的蚀刻。这一脾气促进了化学反馈并匡助蚀刻产品的解吸附作用。
起首于学习那些事,作家小陈婆婆
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